和亞成立於2015年,從Camera Module檢測、3D Sensing起家,2021年獲台亞半導體策略投資後,進一步跨入半導體檢測。目前已發展AI Platform、AA精密對位、AOI智慧檢測、Smart Manufacturing及Optical Module五大方案,布局晶圓/晶片AOI、2D/3D檢測、AI瑕疵分類,以及矽光子、CPO光電模組檢測等應用。
董事長石文機今在記者茶敘上表示,和亞的核心技術並非單純做AI辨識,而是從光學、鏡頭、影像處理一路整合到AI演算法。進入半導體後,則把過去累積的光學影像能力延伸至晶圓外觀檢測,目前可涵蓋2吋至8吋晶圓,主要檢查裂片、髒污等外觀瑕疵,12吋技術上也可延伸。和亞AOI業務約8成來自半導體應用。
除了用AI「找瑕疵」,和亞也推出Smart Box邊緣運算產品。由於半導體廠基於資安考量,生產資料難以上傳雲端,Smart Box可直接部署於產線,在本地端運行小型語言模型,串接歷史維修資料及作業手冊,讓作業員以自然語言詢問設備問題,協助現場排除異常。
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